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探针台显微镜

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全新的一体化设计,具有优异的光学成像质量,方便使用的正像光学系统,是理想的检测半导体器件的工具,支持3种激光波长,可在半导体和液晶基板中使用激光切割和薄膜技术。可以广泛应用于半导体、电子、冶金等行业的制造和研究领域。






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APO物镜

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APO物镜
产品简介
长工作距离无应力平场复消色差APO物镜,提供了优异的成像质量。
物镜名称 倍数 N.A. W.D.(mm) 解像度(um)
长工作距离平场复消色差物镜 2x 0.055 34.0 5.0
5x 0.140 34.0 2.0
10x 0.280 33.5 1.0
20x 0.420 20.0 0.7
50x 0.550 13.0 0.5
100x(HNA) 0.8 3.0 0.34
可调焦长工作距离平场复消色差物镜 2x 0.055 34.0 5.0
5x 0.140 34.0 2.0
10x 0.280 33.5 1.0
20x 0.420 20.0 0.7
超长工作距离平场复消色差物镜 50x 0.420 20.5 0.7
100x 0.550 13.0 0.5
NIR超长工作距离平场复消色差物镜 20x 0.400 20.5 0.7
50x 0.420 19.0 0.7

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